東北大学大学院生の築田直也、多元物質科学研究所の進藤大輔教授と理化学研究所の新津甲大特別研究員らの研究グループは、各種の絶縁体にイオンビームによる微細加工を施して形態を制御し、電子線照射により帯電した絶縁体試料表面で、放出された２次電子の蓄積を、電子線ホログラフィーにより可視化することに成功しました。
　本研究成果は、日本顕微鏡学会　第72回学術講演会 仙台（2016.6.14-2016.6.16）で発表される予定です。

(a)Ｙ字型に加工されたエポキシ樹脂試料周辺の電位分布を示す位相再生像。 (b)二階調化した振幅再生像。画像の青色領域は試料形状を示す。

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