【概要】

これまで電子顕微鏡は、生体分子や有機材料などの軽い原子からなる試料を直接観察するのには向いていませんでした。電子線が試料中でほとんど散乱や吸収されず、十分な像コントラストが得られないためです。今回、自然科学研究機構　生理学研究所の村田和義准教授らは、東北大学の百生敦教授と共同でフレネルゾーンプレートを用いた新規位相差STEM法を開発し、電子顕微鏡の像コントラストを飛躍的に向上させることに成功しました。本研究結果は、英国科学誌Ultramicroscopy 2020年11月号(オンラインpre-proof版8月5日解禁）に掲載されます。

A）従来のSTEM像、B）FZP位相差STEM像。細いCNTもはっきりと確認できる（矢印）。CNTが交差した部分は、それぞれを足し合わせた濃度になる（矢頭）。

詳細（プレスリリース本文）※2020年9月9日に訂正版へ差替え

※5頁目の【用語解説】※4　ＣＴの説明文を以下のとおり訂正いたしました。
修正前：日本語では男装撮影法と訳され
修正後：日本語では断層撮影法と訳され

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