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アドバンテスト芙uメモリ?テスト?システムを喘いて128Mb畜業のSTT-MRAMの互堀嘛をg^

‐古勣/

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書指のg^gYの撹孔は、云僥忽H鹿eエレクトロニクス冩梢_kセンタ`待各CIESが容MするCIESコンソ`シアムKびに、|臼寄僥がヨ並Cvを佞瓠|臼寄僥?奨脅寄僥?表侘寄僥と枠M議二I蛤の薦をY鹿して、b僥慌プラットフォ`ムの侘撹を朕峺すOPERAにおける_k悶崙によるものです。

參貧の撹惚は、2018定12埖1晩゛5晩のg、致忽サンフランシスコで_岸される徨デバイスにvする忽H僥氏である仝致忽徨秤麪Щ(☆1)麼岸の忽H徨デバイ氏h(IEEE International Electron Devices Meeting)々でk燕崑します。

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─1致忽沂徨僥氏
 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. 宥各 IEEE ┘▲?トリプル?イ`。致忽に云を崔く弊順恷寄の?徨室gにvする僥氏M。

1 云冩梢でSTT-MRAMのuに喘いたアドバンテスト芙uメモリテストシステム(T5822)。

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#冩梢坪否式びセンタ`の試咾哩vして
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センタ`L?縮娩 h儲學隻 TEL022-796-3410

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